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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2003.4
- 수록면
- 845 - 850 (6page)
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The scattered light pattern from a machined surface generally contains much information concerning the
surface roughness. The light pattern can be acquired by optical system and analyzed by statistical method.
This kind of surface roughness measurement system can be easily adopted on the machine measurement. But
the fully assembled system is too complex to implement on small systems using micro-controller. This study
proposes the idea of reducing the number of optical components by removing screen and examines image
processing of a light pattern to minimize the negative result of incomplete optical system. And the Gaussian
blur filtering is concluded to be the best method of proposed measurement system. Furthermore light intensity
variation of image pattern can be treated as a signal, therefore FIR filtering gives the similar result of
Gaussian blur effect.
surface roughness. The light pattern can be acquired by optical system and analyzed by statistical method.
This kind of surface roughness measurement system can be easily adopted on the machine measurement. But
the fully assembled system is too complex to implement on small systems using micro-controller. This study
proposes the idea of reducing the number of optical components by removing screen and examines image
processing of a light pattern to minimize the negative result of incomplete optical system. And the Gaussian
blur filtering is concluded to be the best method of proposed measurement system. Furthermore light intensity
variation of image pattern can be treated as a signal, therefore FIR filtering gives the similar result of
Gaussian blur effect.
목차
Abstract
1. 서론
2. 측정 원리
3. 광학계의 구성
4. 실험 방법 및 결과
5. 결론
참고문헌
참고문헌 (0)
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