Principles and Applications of Transient Capacitance(Current) Spectroscopy

임한조

대한전자공학회 워크샵

1988 .04

DLTS시스템 제작 및 그 응용

정희범 ,  김충기

대한전자공학회 학술대회

1983 .01

DLTS의 원리 및 측정 방법

권영규

전자공학회지

1988 .02

고 ENERGY 해상도를 위한 새로운 DLTS측정방법 ( A New DLTS Measurement Technique with High Energy Resolution )

배동건

대한전자공학회 세미나

1994 .01

DLTS 시스템을 이용한 MOSFET 측정 ( MOSFET Measurements on the DLTS System )

김홍배

전자공학회논문지-A

1991 .02

DLTS 분석기술의 원리와 응용

임한조

대한전자공학회 워크샵

1988 .01

Applications of Deep Level Transient Spectroscopy for silicon wafering and device processes

K. Ryoo ,  H. Kim ,  G. Suh 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

FEM을 이용한 Dynamic Locking Tongue(DLT)의 강도 해석 및 형상 최적화

최지훈 ,  박태원 ,  이진희

대한기계학회 논문집 A권

2012 .06

고 에너지 (1.5 MeV) Boron 이온 주입과 초기 산소농도 조건이 깊은 준위에 미치는 영향에 관한 연구

송영민 ,  문영희 ,  김종오

한국재료학회지

2001 .01

MNS소자의 DLTS와 그 빛조사 효과 ( DLTS Measurements of MNS Diode and Its Illumination Effect )

오재하 ,  박영우 ,  이상훈 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1987 .05

C²-DLTS System 제작 및 MBE로 성장한 Sn-doped GaAs의 Deep Level

김문덕 ,  홍치유 ,  강태원

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

DLTS 법에 의한 α-Fe₂ O₃ - TiO₂ 계 산화물의 전기적 특성

강희복 ,  최복길 ,  성영권

대한전기학회 학술대회 논문집

1989 .07

DLTS방법을 이용한 MOS Capacitor 계면 상태 측정 ( Measurements of Interface States in a MOS Capacitor by DLTS )

배동건 ,  정상구

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

α-Fe2O3-TiO2계 산화물의 DLTS와 전기적 특성 ( DLTS and the electrical property of α-Fe2O3-TiO2 containing small amounts of added titanium )

강희복 ,  최복길 ,  성영권

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

신호처리

안수길

대한기계학회지

1982 .08

신호처리 특집에 부쳐

이상욱

전기의세계

1987 .12

Lock-in Amplifier를 이용한 1회 온도주사에 의한 DLTS 방법 ( Single Temperature Scanning DLTS Using Lock-in Amplifier )

이우용 ,  최연익 ,  임한조 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

실험 계획법을 이용한 Dynamic Locking Tongue(DLT) 장치의 형상 최적화

최지훈 ,  박태원

대한기계학회 춘추학술대회

2011 .11

Characterization of CAST Poly-Si Using DLTS Measurements

In-Gab Hwang

JOURNAL OF KIEE

1994 .09

DLTS 측정에 의한 접합 SOI 웨이퍼내의 결함 분석

김홍락 ,  강성건 ,  이성호 외 4명

한국재료학회 학술발표대회

1995 .01