광대역 단상 Lock-in 증폭기 DLTS 시스템을 이용한 MOS Capacitor 계면상태 측정 ( Measurement of Interface States In a MOS Capacitor by DLTS System Using Wideband Monophase Lock-in Amplifier )

배동건 ,  정상구

전자공학회논문지

1986 .11

MOS Capacitor

서정하

대한전자공학회 단기강좌

1982 .01

MOS Capacitor의 계면상태 특성에 미치는 직렬저항 성분의 영향 ( Effects of series Resistance on Interface State Characteristics of an MOS Capacitor )

배동건 ,  최연익 ,  임한조 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .05

DLTS의 원리 및 측정 방법

권영규

전자공학회지

1988 .02

고 ENERGY 해상도를 위한 새로운 DLTS측정방법 ( A New DLTS Measurement Technique with High Energy Resolution )

배동건

대한전자공학회 세미나

1994 .01

MOS Capacitor의 C-V 곡선에 미치는 광의 영향

박병국 ,  이정한

대한전자공학회 학술대회

1983 .11

DLTS 시스템을 이용한 MOSFET 측정 ( MOSFET Measurements on the DLTS System )

김홍배

전자공학회논문지-A

1991 .02

DLTS시스템 제작 및 그 응용

정희범 ,  김충기

대한전자공학회 학술대회

1983 .01

전리방사선 센서용 MOS Capacitors의 구조적 변화에 따른 감도 특성 분석

황영관 ,  이남호 ,  이현진

대한전자공학회 학술대회

2008 .06

MOS 커패시터의 구조별 전리방사선 감도 특성 분석

황영관 ,  이승민

전기학회논문지

2013 .07

MOS Capacitor의 C-T 측정에 의한 Generation Lifetime 결정

윤의식 ,  이정한

대한전자공학회 학술대회

1983 .11

DLTS 분석기술의 원리와 응용

임한조

대한전자공학회 워크샵

1988 .01

MOS Capacitor의 이론 및 C-V , C-t Plot의 응용

서정하

대한전자공학회 단기강좌

1983 .01

FEM을 이용한 Dynamic Locking Tongue(DLT)의 강도 해석 및 형상 최적화

최지훈 ,  박태원 ,  이진희

대한기계학회 논문집 A권

2012 .06

MOS CApacitor Inversion 층의 저항 측정에 관한 연구

곽계달 ,  이상선 ,  김홍배

대한전자공학회 학술대회

1983 .01

MOS Capacitor의 과도특성으로부터 캐리어 수명결정에 관한 연구

하덕용 ,  이상돈 ,  류부형 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .11

MNS소자의 DLTS와 그 빛조사 효과 ( DLTS Measurements of MNS Diode and Its Illumination Effect )

오재하 ,  박영우 ,  이상훈 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1987 .05

The effect of C-V characteristics of n-MOS capacitor by Co-60 irradiation dose

Dongjin Kim ,  Jinmin Lee ,  Simon Lee 외 1명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

2006 .06

방사선이 조사된 MOS 구조에서의 전기적 특성 ( Electrical Characteristics in irradiated MOS capacitors )

권순석 ,  채홍인 ,  류부형 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1992 .01

MOS Capacitor의 C-V 측정에 의한 불순물분포측정에 관한 연구

김봉흡 ,  김진주

대한전기학회 학술대회 논문집

1984 .07