조합 논리 회로에 대한 개선된 검사 입력 자동 생성

백덕화 ,  김명수 ,  안광선

한국정보과학회 학술발표논문집

1990 .04

조합 논리 회로의 기능적 출력 검증을 위한 의사-전체검사 패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Pseudo-Exhaustive Test Pattern Generation for the Functional Output Verification of Combinational Logic Circuits )

김진문 ,  이강현 ,  김용득

대한전자공학회 학술대회

1990 .01

신경회로망을 이용한 조합 논리회로의 테스트 생성 ( Test Generation for Combinational Logic Circuits Using Neural Networks )

김영우 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1993 .09

조합논리회로에 대한 개선된 자동시험패턴 발생에 대한 연구 ( Automatic Test Pattern Generation of Combinational Logic Circuits )

안광선 ,  강병욱 ,  김종훈

한국통신학회 학술대회논문집

1988 .01

조합논리회로에 대한 개선된 자동시험패턴 발생에 대한 연구 ( Automatic Test pattern Generation of Combinational Logic Circuits )

안광선 ,  강병욱 ,  김종훈

특정연구 결과 발표회 논문집

1988 .01

신경회로망을 이용한 조합 논리회로의 테스트 생성 ( Automatic Test Generation for combinational Logic Circuits Using Neural Networks )

김근수 ,  신종훈 ,  하상진 외 5명

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

조합논리회로의 결함검출시험에 관한 연구 ( A Study on Fault Detection Tests for Combinational Logic Networks )

최흥문

전자공학회지

1978 .01

논리값 제약을 갖는 스캔 설계 회로에서의 자동 시험 패턴 생성 ( A Method to Generate Test Patterns for Scan Designed Logic Circuits under Logic Value Constraints )

박은세

전자공학회논문지-A

1994 .02

검사 신호에 대한 저비용 압축

임동욱 ,  민형복

정보과학회논문지(A)

1998 .11

단층 입력 구조의 Magnetic-Tunnel-Junction 소자를 이용한 임의의 3비트 논리회로 구현을 위한 자기논리 회로 설계

이현주 ,  김소정 ,  이승연 외 2명

전자공학회논문지-SD

2008 .12

조합회로에 대한 고장 진단 검사신호 생성 ( Diagnostic Test Pattern Generation for Combinational Circuits )

박영호 ,  민형복 ,  이재훈 외 1명

전자공학회논문지-C

1999 .09

계층적 논리 회로의 시뮬레이션 ( Simulation for Hierarchical Logic Network )

이홍주 ,  허용민 ,  이주희 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1988 .07

계층적 논리 회로의 시뮬레이션

이홍주 ,  허용민 ,  이주희 외 3명

대한전기학회 학술대회 논문집

1988 .07

논리회로의 고장진단을 위한 퍼지테스트생성 기법

조재희 ,  강성수 ,  김용기

한국지능시스템학회 학술발표 논문집

1996 .11

관계행열을 이용한 회로의 의사-전체검사 패턴 생성 ( Generation of Pseudo-exhaustive Test Patterns Using D ( N ) for the Circuit Under Test )

이강현 ,  김용득

전자공학회논문지

1990 .07

Emitter Function Logic을 이용한 논리회로 설계 및 응용에 관한 연구

이은설 ,  김희석 ,  임제탁

대한전자공학회 학술대회

1981 .01

9. Emitter Function Logic을 이용한 논리회로 설계 및 응용에 관한 연구

이은설 ,  김희석 ,  임제탁

대한전자공학회 학술대회

1981 .08

디지탈 논리회로에 대한 효율적인 테스트 패턴 생성 알고리듬 ( An Efficient Test Generation Algorithm for Digital Logic Circuits )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1991 .02

조합논리회로의 다중결함검출 ( Multiple Fault Detection in Combinational Logic Networks )

고경식 ,  김흥수

전자공학회지

1975 .08

손으로 그린 논리회로 도형의 인식에 관한 연구

김은중 ,  김태균

대한전자공학회 학술대회

1986 .12