CMOS Complex Gates의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Complex Gates )

조상복 ,  임인칠

전자공학회지

1984 .09

Accurate Current Model for CMOS Gates

Jyh He ,  ng Wang ,  Jen Teng Fan 외 1명

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1993 .01

LOW DIRECT-PATH SHORT CIRCUIT CURRENT OF THE CMOS DIGITAL DRIVER CIRCUIT

Ji ,  awath Pa ,  nklang 외 3명

제어로봇시스템학회 국제학술대회 논문집

2003 .10

DEVICE DESIGN FOR THE LOW POWER CMOS CIRCUIT

Young June Pa ,  k ,  Dae Gwan Kang 외 1명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1995 .01

CMOS 디지털 게이트의 최대소모전력 예측 매크로 모델

金東郁

전기학회논문지 A

1999 .10

Analysis of Simultaneous Switching Noise by Short-circuit current in CMOS-Single Ended Driver

지소현 ,  하종찬 ,  김용주 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2005 .05

A Three Gates Single-Electron Transistor Model for Circuit Simulation by SPICE

YunSeop Yu ,  Nam-Ho Kim ,  Chanho Lee 외 6명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2006 .07

풍력 발전기 Type에 따른 고장전류 기여도에 관한 연구

박성준 ,  조윤성

조명·전기설비학회논문지

2017 .12

MOSFET 특성에 기초한 CMOS 디지털 게이트의 최대소모전력 예측모델 ( Maximum Power Dissipation Estimation Model of CMOS digital Gates based on Characteristics of MOSFET )

김동욱 ,  정병권

전자공학회논문지-C

1999 .09

단락제어에 따른 입향상진 피복아크 용접 특성에 관한 연구

이경훈 ,  유회수 ,  현승균

대한용접·접합학회지

2017 .10

CMOS 회로의 단락 전류 예측 기법

백종흠 ,  정승호 ,  김석윤

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2000 .11

저전력 CMOS 기준전류 발생회로

김유환 ,  권덕기 ,  이종렬 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

정적 CMOS 회로의 단락 소모 전력 예측 기법

白宗欽 ,  鄭承鎬 ,  金錫潤

전자공학회논문지-SD

2000 .11

저전력 CMOS 기준전압 발생 회로 ( A Low-Power CMOS Voltage Reference Circuit )

권덕기 ,  오원석 ,  김동환 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

A New Delay Model for Large Digital CMOS Circuits

Dong Wook Kim ,  Won Il Cho ,  Byung Kweon Jung

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

A 10-Gb/s Power and Area Efficient Clock and Data Recovery Circuit in 65-㎚ CMOS Technology

Jinsoo Rhim ,  Kwang-Chun Choi ,  Woo-Young Choi

대한전자공학회 ISOCC

2012 .11

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11

ANSI/IEEE와 IEC 표준에 따른 변압기의 단락강도시험방법 비교고찰

김선호 ,  김선구 ,  김원만 외 4명

대한전기학회 학술대회 논문집

2009 .10

CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )

조상복 ,  임인칠

전자공학회지

1984 .11

Testability를 높이기 위한 Sea-of-Gates 구조에 관한 연구 ( A Study on the Sea-of-Gates Structure to Enhance Testability )

윤인수 ,  채수익

대한전자공학회 학술대회

1992 .01