Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 테스트 패턴 인가 방식 ( An Efficient Test Pattern Application Method Using Boundary-Scan Architecture )

류근장 ,  이인학 ,  손윤식 외 6명

대한전자공학회 학술대회

1993 .01

An Efficient Method of Path-Delay Test Generation for Standard Scan Designs

Yong Seok Kang ,  Sung Ho Kang

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1996 .01

Efficient Path Delay Testing Using Scan Justification

Kyung-Hoi Huh ,  Yong-Seok Kang ,  Sungho Kang

[ETRI] ETRI Journal

2003 .06

경계면 - 스캔 기저 구조를 위한 지연시험 ( Delay Test for Boundary - Scan based Architectures )

강병욱 ,  안광선

전자공학회논문지-A

1994 .06

화물 검색시스템 구현 및 Boundary_Scan Test

김봉수 ,  김인수 ,  유선원 외 4명

대한전기학회 학술대회 논문집

2002 .11

A Low Power Scan Design Architecture

Insoo Kim ,  Susik Pa ,  k 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2004 .10

Boundary Scan Architecture를 이용한 회로기판 내의 연결선 고장진단에 관한 연구

李宰勳 ,  玄昌煥 ,  閔炯福

전기학회논문지

1997 .11

A New Low Power Scan Architecture Considering Test Data Compression

Hong-Sik Kim ,  Beom Ik Cheon ,  Kyu-Myung Choi 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

경계 주사 아키텍처를 이용한 지연 고장 테스트 기법 ( Delay Fault Testing Techniques Using Boundary - Scan Architecture )

허용민 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1994 .11

T-Scanning Method에 의한 접합 경계면의 화상해석

김재열 ,  오성민 ,  홍원 외 2명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

1998 .11

Boundary Scan 방식을 이용한 테스터블 Board 설계 ( A Testable Board Design Using the Boundary Scan Test Method )

전태호 ,  김유인 ,  신재흥 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

화물 검색시스템 구현 및 Boundary_Scan Test

김봉수 ,  김인수 ,  유선원 외 4명

대한전기학회 학술대회 논문집

2002 .11

IEEE 1149.1 표준에 근거한 다중 클럭을 이용한 단일 캡쳐 스캔 설계에 적용되는 경계 주사 테스트 기법에 관한 연구

金吝洙 ,  閔炯福

전기학회논문지

2007 .05

Bounsary Scan Test 시스템에 관한 연구

고민주 ,  송오영

한국통신학회 학술대회논문집

1998 .11

Dynamically Changeable Secure Scan Architecture against Scan-Based Side Channel Attack

Yuta Atobe ,  Youhua Shi ,  Masao Yanagisawa 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2012 .11

Operation about Multiple Scan Chains based on System-on-Chip

Insoo Kim ,  Hyoung Bok Min

대한전자공학회 ISOCC

2008 .11

‘경계’의 개념으로 본 학생건축작품전의 최근 경향에 관한 연구 : 2003~2005년도 ‘부산건축대전’ 출품작을 중심으로

정순목 ,  이동언

대한건축학회 학술발표대회 논문집 - 계획계

2005 .10

현대 건축의 경계에서 나타나는 어포던스의 특성분석에 관한 연구

이승윤 ,  이영수

대한건축학회 학술발표대회 논문집 - 계획계

2010 .10

Are You O.K! Architecture?

조충기

건축사

2007 .01

Efficient Parallel Scan Test Technique for Cores on AMBA-based SoC

Jaehoon Song ,  Jihun Jung ,  Dooyoung Kim 외 2명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2014 .06