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An Efficient Method of Path-Delay Test Generation for Standard Scan Designs
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1996 .01
An Efficient Delay Test Method Using Boundary-Scan Architecture
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
Efficient Path Delay Test Generation for Custom Designs
[ETRI] ETRI Journal
2001 .06
듀얼 레이저 주사 경로에 따른 인장 강도 해석
한국기계가공학회 춘추계학술대회 논문집
2005 .11
기계적 강도 향상을 위한 듀얼 레이저 주사 경로 생성
대한기계학회 춘추학술대회
2005 .11
새로운 논리값을 사용한 주사 환경을 위한 경로 지연 검사 입력 생성기에 관한 연구 ( An Efficient Path-Delay Fault Test Generator Using New Logic Values for Scan Design Environments )
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
새로운 논리값을 사용한 주사 환경을 위한 경로 지연 검사 입력 생성기에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
Efficient Test Data Compression and Low Power Scan Testing in SoCs
[ETRI] ETRI Journal
2003 .10
Design and implementation of an efficient node scan system in the MOST network
INTERNATIONAL CONFERENCE ON FUTURE INFORMATION & COMMUNICATION ENGINEERING
2010 .06
Efficient Parallel Scan Test Technique for Cores on AMBA-based SoC
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE
2014 .06
Laser Scanning Path Generation for the Fabrication of Large Size Shape
제어로봇시스템학회 국제학술대회 논문집
2005 .06
효율적인 Partial Scan 설계 알고리듬
전기학회논문지 P
2004 .12
A Path-Delay Test Generator for Large VLSI Circuits
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
The Path to the Zero The Path to the Zero Waste
한국지반환경공학회 학술발표회논문집
2010 .09
IEEE 1149.1 표준에 근거한 다중 클럭을 이용한 단일 캡쳐 스캔 설계에 적용되는 경계 주사 테스트 기법에 관한 연구
전기학회논문지
2007 .05
Dynamically Changeable Secure Scan Architecture against Scan-Based Side Channel Attack
대한전자공학회 ISOCC
2012 .11
Line Scanning Performance 향상에 관한 연구
한국통신학회 학술대회논문집
1994 .07
Low power scan testing and efficient test data compression for System-On-a-Chip
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
2002 .07
삽입 실시간 디스크 스케줄링기법과 양방향 SCAN기법
한국정보과학회 학술발표논문집
2004 .10
SFFS에서 가공효율 향상을 위한 주사경로 생성
대한기계학회 춘추학술대회
2006 .06
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