메모리에서 PSF 검출을 위한 알고리듬 및 BIST 설계 ( PSF detection algorithm and BIST design in memory )

이중호 ,  조상복

전자공학회논문지-A

1993 .01

메모리의 PSF 테스트를 위한 BIST 구현 ( BIST implementation for testing PSF in memories )

김성무 ,  이중호 ,  조진규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

메모리의 PSF 테스트를 위한 BIST 구현

김성무 ,  이중호 ,  조진규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

초 고집적 DRAM에서 개선된 PSF 테스트에 관한 연구

조호문 ,  정원채 ,  이중호 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .06

초 고집적 DRAM에서 개선된 PSF 테스트에 관한 연구 ( A Study on Modified PSF Test in Super High-Density DRAM )

조호문 ,  정원채 ,  이중호 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .07

A Design of BIST Circuit for Testing ULSI DRAM

Dae Ik Kim ,  Sung Hwan Bae ,  Nam Hee Kim 외 2명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

1995 .01

A Design of BIST Circuit for Testing ULSI DRAM

Dae-Ik Kim ,  Sung-Hwan Bae ,  Nam-Hee Kim 외 2명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

1995 .08

Fully Programmable Memory BIST for Commodity DRAMs

Ilwoong Kim ,  Woosik Jeong ,  Dongho Kang 외 1명

[ETRI] ETRI Journal

2015 .08

초점 열화 추정을 위한 모델 기반 PSF 추정 방법

김동균 ,  백준기

대한전자공학회 학술대회

2010 .06

DRAM 특집을 내면서

진대제

전기의세계

1989 .04

메모리의 병렬 테스트 방식에 의한 PSF 검출 ( PSF Detection of Memory by Parallel Testing )

이중호 ,  김성무 ,  조진규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

Redundancy Cell Programming이 용이한 병렬 I/O DRAM BIST

유재희 ,  하창우

전자공학회논문지-SD

2002 .12

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

고집적 메모리에서 PSF의 테스트에 관한 연구 ( A Study on PSF's Testing in High Density Memory )

허영도 ,  이중호 ,  조효문 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1990 .01

연상 메모리를 위한 BIST 회로 설계에 관한 연구 ( A Study on design BIST Circuit for Content Addressable Memory )

정장원 ,  이주석 ,  고학림 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1996 .01

PSF를 이용한 수중 용존기체 분리특성

허필우 ,  박인섭

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2010 .11

혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기

金弘植 ,  李抗圭 ,  姜成昊

전기학회논문지

1998 .07

효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )

김홍식 ,  윤도현 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1999 .12

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02