지원사업
학술연구/단체지원/교육 등 연구자 활동을 지속하도록 DBpia가 지원하고 있어요.
커뮤니티
연구자들이 자신의 연구와 전문성을 널리 알리고, 새로운 협력의 기회를 만들 수 있는 네트워킹 공간이에요.
논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2002.12
- 수록면
- 22 - 32 (11page)
이용수
초록· 키워드
오류제보하기
테스트와 동시에 오류 비트의 수와 위치를 파악하도록 하여 redundancy 프로그래밍이 용이한 다수 비트 출력 DRAM을 위한 BIST 구조가 소개되었다. 일반적으로, DRAM 셀이 n개의 블록으로 구성된 경우에, 단지 n개의 비교기와 한 개의 3가지 상태 엔코더를 사용하여, 무오류 상태, 한 개의 오류가 있을 경우, 오류 상태 및 오류비트가 존재하는 블록의 위치, 두개의 블록에 오류가 있을 경우 오류 상태 등 총 n + 2개의 상태를 나타낼 수 있다. 제안된 방법을 통하여, 두개 이상의 블록에 오류가 있을 경우, 오류 비트의 위치와 수를 파악하는 방법으로 용이하게 확장 구현가능하다. 8블록으로 구성된 64MEG DRAM 경우의 성능 비교 결과 단지 0.115%의 칩 면적 증가로, 테스트 및 redundancy 프로그래밍 시간이 1/750로 감소하였다.
목차
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 테스트 아키텍처
Ⅲ. MTFL 회로설계
Ⅳ. 시뮬레이션과 레이아웃
Ⅴ. 테스트 시간 성능향상 분석
Ⅵ. 결론
참고문헌
참고문헌 (0)
참고문헌 신청함께 읽어보면 좋을 논문
논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!
-
A Design of BIST Circuit for Testing ULSI DRAM
ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications
1995 .01
-
A Design of BIST Circuit for Testing ULSI DRAM
ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications
1995 .08
-
DRAM 특집을 내면서
전기의세계
1989 .04
-
BIST SCHEME DESIGN FOR PSF DETECTION OF DRAM
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1992 .01
-
Fully Programmable Memory BIST for Commodity DRAMs
[ETRI] ETRI Journal
2015 .08
-
Wide Data-width DRAM을 위한 Flexible Redundancy Scheme ( A Flexible Redundancy Scheme for Wide Data-width DRAM )
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
-
Wide Data-width DRAM을 위한 Flexible Redundancy Scheme
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
-
ECC를 적용한 DRAM의 초기화 시간 최소화 방법
대한전기학회 학술대회 논문집
2006 .10
-
256K DRAM의 신뢰성
전자진흥
1985 .01
-
DRAM의 한계
전기의세계
1989 .04
-
고밀도 DRAM Cell의 새로운 구조에 관한 연구 ( A Study on New High Density DRAM Cell )
전자공학회논문지
1989 .06
-
고집적 DRAM Cell 에 대한 연구 ( The Study of High Density DRAM Cell Structure )
대한전자공학회 학술대회
1989 .01
-
256K Bit 시대의 전망
전자진흥
1985 .01
-
Technology Trend in DRAM Cells
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1991 .01
-
입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )
전자공학회논문지-SD
2000 .08
-
한국의 4M DRAM 공동연구개발 사례연구 하(下)
반도체디스플레이기술학회지
2019 .01
-
DRAM의 신뢰성 향상을 위한 비균등 오류 정정 코드
정보과학회지
2018 .10
-
분할 및 병렬 처리 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소
전기학회논문지 D
2000 .06
-
DRAM 의 안정한 내부 전압 시스템 설계에 관한 연구 ( A Study on the Design of the Stable Internal Voltage System for DRAM's )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
-
DRAM의 안정한 내부 전압 시스템 설계에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
이 논문의 저자 정보
최근 본 자료
댓글(0)
0
UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-013697153