메모리의 고장과 결함 검출 가능한 BIST 회로의 설계

배성환 ,  김관웅 ,  이옥재 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

메모리의 고장과 결함 검출 가능한 BIST 회로의 설계 ( A Design of Fault and Defectable BIST Circuit for Memories )

배성환 ,  김관웅 ,  이옥재 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

초 고집적 메모리의 효율적인 테스트를 위한 BIST 회로와 BICS 의 설계 ( A Design of BIST Circuit and BISC for Efficient ULSI Memory Testing )

김대익 ,  전병실

전자공학회논문지-C

1997 .08

CMOS 회로의 결함검출을 위한 BIC 설계

이효상 ,  류진수 ,  서정훈 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

CMOS 회로의 결함검출을 위한 BIC 설계 ( A Design of BIC for Fault Detection in CMOS VLSI )

이효상 ,  류진수 ,  서정훈 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

내장 메모리 테스트를 위한 BIST 회로 자동생성기 ( Automatic BIST Circuit Generator for Embedded Memories )

양선웅 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2001 .10

연상 메모리를 위한 BIST 회로 설계에 관한 연구 ( A Study on design BIST Circuit for Content Addressable Memory )

정장원 ,  이주석 ,  고학림 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1996 .01

VHDL을 이용한 테스트 알고리즘의 BIST 회로 설계

배성환 ,  신상근 ,  김대익 외 2명

한국음향학회지

1999 .01

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

김대익 ,  배성환 ,  이창기 외 2명

전자공학회지

1995 .12

고장위치 검출 가능한 BIST용 패턴발생 회로의 설계 ( Design of Fault Position Detectable Pattern Generator for Built-In Self Test )

김대익 ,  정진태 ,  이창기 외 1명

한국통신학회논문지

1993 .10

1.8GHz 고주파 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 BIST 회로

류지열 ,  노석호

전자공학회논문지-TC

2005 .06

MOS의 D-M 오픈 고장 검출 BIST 설계

김철운 ,  김영민 외1명

한국컴퓨터정보학회논문지

1997 .02

반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )

조상복

전자공학회지

1992 .05

혼성 신호 회로에 대한 효과적인 BIST

방금환 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .08

RF Front End의 결함 검출을 위한 새로운 온 칩 RF BIST 구조 및 회로 설계

류지열 ,  노석호

한국정보통신학회논문지

2004 .04

메모리에서 PSF 검출을 위한 알고리듬 및 BIST 설계 ( PSF detection algorithm and BIST design in memory )

이중호 ,  조상복

전자공학회논문지-A

1993 .01

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

김지환 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .06

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01