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논문 기본 정보

자료유형
학위논문
저자정보

박상혁 (성균관대학교, 성균관대학교 일반대학원)

지도교수
김소영
발행연도
2016
저작권
성균관대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

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일반적으로 슈미트리거 로직 게이트는 히스테리시스(Hysteresis) 특성을 가져서 잡음 특성 향상을 위한 설계에 유리한 디자인이다. 본 논문에서는 슈미트 트리거 로직 게이트가 Subthreshold 영역에서 동작이 가능하도록 Dynamic Threshold voltage MOS (DTMOS) 디자인이 적용된 형태의 슈미트 트리거 로직 게이트에 대해서 소개하고 있으며, IDEC에서 제공하는 MPW 공정 (MS180-15030) 을 통해 실제 chip으로 제작하고 분석하였다. DTMOS가 적용된 슈미트 트리거 로직 게이트는 매우 낮은 전압에서도 동작하기 때문에, 잡음 내성을 위한 설계뿐만 아니라 저전력 회로구현에 매우 적합하다. 슈미트트리거는 body bias로 피드백 신호가 들어가는 형태로 히스테리시스 특성을 가지게 되는데, 기존에 시뮬레이션을 통해서만 특성을 확인하였던 슈미트트리거를 실제 chip으로 제작하기 위해서는 body potential 제어를 위해 deep N-well 구조를 사용하여야 했다. 측정을 통해 제작된 DTMOS 슈미트트리거 로직이 충분히 향상된 잡음특성을 가지며, 단순 게이트 단계에서뿐만 아니라 회로단계에서도 향상된 잡음특성을 가지며 동작하는 것을 확인하였다.

목차

목차 ................................................................................................................... ⅰ
표 목차 ............................................................................................................. ⅱ
그림 목차 ......................................................................................................... ⅱ
논문 요약 ......................................................................................................... iv
제1장 서론 .......................................................................................................... 1
제2장 배경 이론 및 관련 연구. ......................................................................... 4
2-1 DTMOS 슈미트 트리거 ............................................................................... 4
2-2 One-sided Hysteresis DTMOS 슈미트 트리거 ........................................ 9
2-3 잡음 내성 평가를 위한 방법 (DPI method) ............................................... 12
제3장 슈미트 트리거 게이트 특성 관찰 .......................................................... 14
3-1 Deep N-well 을 이용한 DTMOS 슈미트 트리거 구현 ............................ 14
3-2 DTMOS슈미트 트리거의 Hysteresis 특성 ................................................ 18
3-3 로직 일반 특성 비교 (DTMOS S. T. logic vs CMOS logic) ...................... 26
3-4 측정 결과와 시뮬레이션 결과의 차이점 원인 분석 ..................................... 28
제4장 슈미트 트리거 게이트 잡음 내성 향상 특성 관찰 (DPI) ................... 35
4-1 시뮬레이션을 통한 잡음 내성 평가 ............................................................. 35
4-2 실제 측정을 통한 잡음 내성 평가 ............................................................... 37
4-3 DTMOS 슈미트 트리거 잡음 내성 평가 결과 비교 ..................................... 38
제5장 결론 .......................................................................................................... 42
참고문헌 .............................................................................................................. 43
Abstract .............................................................................................................. 45

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