인쇄회로 기판의 전기검사에서의 미세 탐침과 패드의 동적 거동 현상 :Dynamic movement of probing pin with PCB pad under electrical reliability test

송성민

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자료유형: 학위논문

저자정보: 송성민 (충남대학교, 忠南大學校大學院)

지도교수: 유상석

발행연도: 2015

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2015

인쇄회로 기판의 전기검사에서의 미세 탐침과 패드의 동적 거동 현상 관측

송성민 , 차강일 , 김명규 외 2명 대한기계학회 논문집 B권 2015.03 학술저널

인쇄회로 기판의 전기검사에서의 미세 탐침과 패드의 동적 거동 현상

송성민 차세대기판학과 2015.01 학위논문

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In an electrical reliability test of Printed circuit board(PCB), micro probing pins impact on PCB to check up quality of circuit. In this study, dynamic movement of probing pin on pad impact is observed. Since mis-aligned pin can generate horizontal force to pad on PCB, this study is focused on the behavior of mis-aligned probing pin. Parameters of observation are a circular edge and a flat edge of probing pin. It is also investigated the effect of moving speed, diameter, projection length of probing pin. Results show that the slippage angle is strongly affected by the edge shape of the probing pin. The projection length is also important factor of pin slippage. On the other hand, moving speed of probing pin is able to increase two folds of slippage angle.

1. 서론 1
1.1 연구의 배경 1
1.1.1 전기검사 1
1.1.2 지그 2
1.1.3 초고속 영상촬영 3
1.1.4 유한요소법 4
1.2 기술개발동향 5
1.3 문헌 조사 6
1.4 연구의 목적 7
2. 설비 개발 9
2.1 핀 충돌 영상획득장치 9
2.2 모사지그 11
2.3 지그동작시스템 13
2.3.1 자동화시스템 요소 14
2.3.2 Z축 모터스테이지 (SZ-0808-3S) 14
2.3.3 스텝모터드라이버 (MD5-HD14) 15
2.3.4 myDAQ 16
2.3.5 LABVIEW 구성 16
2.4 렌즈 17
2.4.1 초고속카메라 17
2.4.2 배율산정 18
2.5 광원 19
2.5.1 광원조건에 따른 획득영상비교 19
2.5.2 광원방향에 따른 획득영상비교 20
2.6 촬영 각도 21
2.6.1 수직각도에 따른 획득영상비교 21
2.6.2 수평각도에 따른 획득영상비교 22
2.7 시편 가공 23
2.8 촬영 및 충돌 속도 23
2.8.1 지그 충돌 속도 23
2.8.2 촬영 속도 산정 24
3. 전산 해석 26
3.1 해석 조건 설정 26
3.2 해석 신뢰도 평가 28
4. 실험 결과 및 고찰 30
5. 결론 40
Reference 41
Abstract 43

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