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논문 기본 정보

자료유형
학위논문
저자정보

박태성 (서울과학기술대학교, 서울과학기술대학교 대학원)

지도교수
박익근
발행연도
2013
저작권
서울과학기술대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.

이용수7

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이 논문의 연구 히스토리 (6)

초록· 키워드

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일반적으로 나노 구조를 가지는 박막 접합계면에서의 탄성특성은 기존의 벌크한 재료와는 상당히 다른 특성을 나타낸다. 이러한 계면에서의 접합 특성은 기지부의 전처리 공정에 의해 좌우되며 전처리 공정은 접합계면의 특성과 신뢰성에 영향을 미친다. 따라서, 이러한 박막계면에 대한 평가가 필수적이라고 할 수 있다. 본 논문에서는 접합특성이 다른 박막의 접합계면을 평가하기 위하여 리소그래피(Lithography) 기법의 공정을 제어하여 접합특성이 다른 시험편을 제작하였다. 제작된 시험편은 초음파현미경의 V(z) 곡선법을 이용하여 표면을 따라 전파하는 표면파의 속도를 측정 함으로서 기지/박막 계면에서의 접합특성을 비파괴적으로 평가하였다. 또한 나노 스크래치 시험을 이용하여 임계하중을 측정하여 표면파의 속도와 비교?검증하므로서 V(z) 곡선법을 이용하여 얻은 데이터의 신뢰성을 검증하였다. 또한 초음파원자현미경을 이용하여 SU-8 용액으로 도포된 시험편에서의 표면 및 계면에서의 이미지를 측정하였다. 실험결과로부터 초음파현미경을 이용하여 측정된 표면파의 속도가 박막 계면에서의 접합특성을 평가하기 위한 기법으로 충분한 감도를 가지고 있다고 판단된다. 또한 모든 시험편에서의 표면파의 속도와 임계하중이 계면의 접합특성에 따라 유사한 경향성을 나타내었다. 이를 통해 초음파현미경의 V(z)곡선법이 박막의 접합계면을 평가할 수 있는 기법으로서 그 신뢰성이 검증되었다. 마지막으로 초음파원자현미경의 접촉공진주파수의 변화를 이용하여 접합특성이 다른 박막 시험편에서의 특성을 가시화 하였다. 초음파원자현미경의 이미지로부터 초음파원자현미경이 나노 구조 박막의 접합특성을 평가할 수 있는 기법으로 그 가능성이 검증되었다. 결론적으로 초음파현미경을 이용한 V(z) 곡선법과 초음파원자현미경을 이용한 이미지기법이 나노 구조 박막 접합계면에서의 특성 평가에 적용성이 높은 기법이라고 판단된다.

목차

1. INTRODUCTION 1
1.1 Background 1
1.2 Previous study based on the conventional method 3
1.2.1 Mechanical method of measuring adhesion 3
1.2.2 Conventional nondestructive method of measuring adhesion 6
1.2.3 Scanning acoustic microscopy for thin film characterization 9
1.2.4 Evaluation of adhesion using scanning acoustic microscopy 11
1.2.5 Ultrasonic atomic force microscopy 17
1.3 Research contents 18
2. EVALUATION OF ADHESIVE INTERFACE BY SCANNING ACOUSTIC MICROSCOPY 20
2.1 Introduction 20
2.2 Theoretical consideration 21
2.2.1 Imaging principal 21
2.2.2 Acoustic wave velocity measurement 24
2.2.3 Rayleigh wave 28
2.2.4 Reflectance function 32
2.2.5 Acoustic spectroscopy 38
2.2.6 Surface wave velocity measurement with V(z) curve method 41
2.2.7 Optimization of the measurement precision 44
2.3 Experimental details 45
2.3.1 Fabrication of the thin films by spin coating method 45
2.3.2 Experimental setup of scanning acoustic microscopy 49
2.3.3 The procedure of V(z) analysis 51
2.4 Experimental results 53
2.4.1 Optical microscopy image of the thin film surface 53
2.4.2 Thickness measurement by SEM 55
2.4.3 Measurement of surface wave velocity with V(z) method 69
2.5 Summary 65
3. VERIFICATION OF THE ADHESIVE INTERFACE BY NANO-SCRATCH TEST 66
3.1 Introduction 66
3.2 Theoretical consideration 68
3.2.1 Calculation of the work of adhesion by Laugier model 68
3.2.2 Calculation of the work of adhesion by Bull and Rickerby model 70
3.3 Experimental details 74
3.4 Experimental results 77
3.5 Summary 89
4. VISUALIZATION OF THE ADEHSIVE INTERFACE BY UAFM 90
4.1 Introduction 90
4.2 Theoretical consideration 91
4.3 Experimental details 96
4.3.1 Fabrication of the copper film system by physical vapor deposition 96
4.3.2 Fabrication of the polymeric films covered with SU-8 photo resist 98
4.3.3 Experimental setup 100
4.4 Experimental results 102
4.4.1 Measurement of the contact resonance frequency accordance with thin film thickness 102
4.4.2 Subsurface image of the thin film covered with SU-8 photo resist 104
4.4.3 Visualization of the adhesive interface 107
4.5 Summary 111
5. CONCLUSIONS 112
REFERENCE 114
Appendex A Weglein’s ray approach for V(z) curve 123
Appendex B Burtoni’s approach for V(z) curve 127

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