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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
정찬원 (부경대학교 재료공학과)
저널정보
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제37권 제5호
발행연도
2024.9
수록면
476 - 485 (10page)

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Understanding the structure-property relationship in functional materials is crucial as microstructural features such as nano-precipitates, phase boundary, grain boundary segregation, and grain boundary phases play a key role in their functional properties. Atom probe tomography (APT) is an advanced analytical technique that allows for the three-dimensional (3D) mapping of atomic distributions and the precise determination of local chemical compositions in materials. Moreover, it offers sub-nanometer spatial resolution and chemical sensitivity at the tens of parts per million (ppm) level. Owing to its unique capabilities, this technique has been employed to uncover the 3D elemental distributions in a wide range of materials, including alloys, semiconductors, nanomaterials, and even biomaterials. In this paper, various kinds of examples are introduced for elucidating structure-property relationships on functional materials by utilizing the atom probe tomography.
#Atom probe tomography #Nano-precipitates #Phase boundaries #Grain boundary segregation #Grain boundary phase #Nano-materials

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