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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
임병옥 (Electronic Device Solution) 고주석 (Electronic Device Solution) 김성찬 (Hanbat National University)
저널정보
한국전기전자학회 전기전자학회논문지 전기전자학회논문지 제28권 제1호
발행연도
2024.3
수록면
33 - 37 (5page)

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본 논문에서는 0.25 ㎛ 게이트 길이를 갖는 GaN HEMT 기술을 사용하여 개발한 X-대역 저잡음 증폭기 MMIC의 특성을 기술한다. 개발된 GaN 기반 X-대역 저잡음 증폭기 MMIC는 9 ㎓ ~ 10 ㎓의 동작 주파수 대역에서 22.75 ㏈ ~ 25.14 ㏈의 소신호 이득과 1.84 ㏈ ~ 1.94 ㏈의 잡음지수 특성을 나타내었다. 입력 반사 손실 특성과 출력 반사 손실 특성은 각각 –11.36 ㏈ ~ -24.49 ㏈, -11.11 ㏈ ~ -17.68 ㏈를 얻었으며 40 ㏈m (10 W)의 입력 전력에 성능 열화 없이 정상적으로 동작하였다. MMIC의 크기는 3.67 ㎜ × 1.15 ㎜이다. 개발된 GaN 기반 저잡음 증폭기 MMIC는 X-대역의 다양한 응용에 적용 가능하다.

목차

Abstract
요약
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 저잡음 증폭기 MMIC 설계
Ⅲ. 저잡음 증폭기 MMIC 측정 결과
Ⅳ. 결론
References

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