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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
양성현 (Soongsil University) 김주호 (Soongsil University) 이성수 (Soongsil University)
저널정보
한국전기전자학회 전기전자학회논문지 전기전자학회논문지 제27권 제2호
발행연도
2023.6
수록면
39 - 45 (7page)

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방사선 등으로 반도체 내부에서 일시적으로 에러가 발생하는 소프트 에러는 차량용 어플리케이션에서 심각한 위험을 초래한다. 동일한 작업을 세 개의 코어에서 서로 다른 지연 시간을 가지고 수행하여 다수결로 결과를 비교하여 최종 결과를 출력하는 삼중 코어 지연 락스텝 프로세서는 소프트 에러에 매우 강인하지만 에러가 발생한 코어의 내부 값을 복구하는 기능이 없어서 해당 코어를 정지시키고 나머지 두 코어만으로 동작을 수행한다. 이 때 추가로 소프트 에러가 발생하면 두 코어의 결과값을 비교하여 에러 발생은 알 수 있지만 어느 코어인지 알 수 없어서 프로세서 전체를 초기화하고 다시 동작을 수행해야 한다. 본 논문에서는 정상 코어의 내부 값을 에러가 발생한 코어에 덮어 씌워서 코어를 복구하는 자동 복구 삼중 코어 지연 락스텝 프로세서를 제안한다. 시뮬레이션 결과 소프트 에러가 여러 번 발생해도 초기화 없이 자동 복구되어 연속 동작을 수행하였다.

목차

Abstract
요약
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안하는 프로세서의 아키텍쳐
Ⅲ. 제안하는 프로세서의 동작
Ⅳ. 시뮬레이션 및 검증
Ⅴ. 결론
References

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