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저자정보
김홍기 (광운대학교) 김진현 (광운대학교) 이승환 (University of Maryland) 최형종 (광운대학교) 이영희 (광운대학교)
저널정보
한양대학교 세라믹공정연구센터 Journal of Ceramic Processing Research Journal of Ceramic Processing Research 제17권 제7호
발행연도
2016.7
수록면
738 - 741 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2016

Effect of Zn dopant on the dielectric properties of (Ca0.8Sr0.2Ti0.8Zr0.2)O3 ceramics
김홍기 ,  김진현 ,  이승환 외 2명 Journal of Ceramic Processing Research 2016.07 학술저널
Fabrication of BaTiO3 and (Ca0.7Sr0.3)(Zr0.8Ti0.2)O3 Films by Aerosol Deposition for Embedded Capacitor Application
김홍기 2016.01 학위논문

초록· 키워드

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Zn doped (Ca0.8Sr0.2Ti0.8Zr0.2)O3 (CSTZ) ceramics were fabricated using the conventional solid state reaction method. Dopant(Zn), which plays the role of acceptor, substitutes the B-site in the perovskite structure and generates oxygen vacancies dueto the charge compensation. With increasing concentration of Zn, the grain size and relative density of doped CSTZ was increasedbecause oxygen vacancies assist in the migration of ion during sintering. As a result, the dielectric constant increased and thedielectric loss decreased. When the concentration of Zn is 0.25 mol%, the dielectric constant and loss of Zn doped CSTZ at 1,000Hzare 199 and 0.076, respectively. Therefore, Zn doped CSTZ has the possibility of being used as a microwave capacitor
#(Ca0.8Sr0.2Ti0.8Zr0.2)O3 #Zn Doping #Charge compensation #Dielectric properties

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참고문헌 (12)

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Y. J. Yoon / 2012 / Trans. Nonferrous Met. Soc. China 22:s735 google schola Y. Imanaka / 2010 / Int. J. Appl. Ceram. Technol 7:E23 google schola S. H. Lee / 2014 / IEEE Electron Device Lett 35(7):777 google schola N. X. Xu / 2014 / Ceram. Int 40:15191 google schola Ye-Sol Yun / 2014 / Dielectric and structural properties of (Ca0.7Sr0.3)(Zr0.8Ti0.2)O3 ceramics / Journal of Ceramic Processing Research 15(4):266~268 dbpia

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