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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2021.9
- 수록면
- 1 - 9 (9page)
- DOI
- 10.1186/s42649-021-00060-z
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We investigate the sensitivity of symmetry quantification algorithms based on the profile R-factor ( R
p
) and the normalized cross-correlation (NCC) coefficient ( γ ). A DM (Digital Micrograph ⓒ ) script embedded in the Gatan digital microscopy software is used to develop the symmetry quantification program. Using the Bloch method, a variety of CBED patterns are simulated and used to investigate the sensitivity of symmetry quantification algorithms. The quantification results show that two symmetry quantification coefficients are significantly sensitive to structural changes even for small strain values of <?1%.
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D. M. Bird / 1990 / Absorptive form factors for high-energy electron diffraction / Acta. Crystallogr 46:202
B. F. Buxton / 1976 / The symmetry of electron diffraction zone axis patterns / Phil. Trans. R. Soc. Lond. A 281:171
S. W. Choi / 1989 / Dielectric and pyroelectric properties in the Pb (Mg1/3Nb2/3) O3-PbTiO3 system / Ferroelectrics 100:29
P. A. Doyle / 1968 / Relativistic Hartree–Fock X-ray and electron scattering factors / Acta. Cryst 24:390
M. Erdtmann / 2006 / The crystallographic properties of strained silicon measured by X-ray diffraction / J. Mater. Sci. Mater. Electron 17:137
B. F. Buxton / 1976 / The symmetry of electron diffraction zone axis patterns / Phil. Trans. R. Soc. Lond. A 281:171
S. W. Choi / 1989 / Dielectric and pyroelectric properties in the Pb (Mg1/3Nb2/3) O3-PbTiO3 system / Ferroelectrics 100:29
P. A. Doyle / 1968 / Relativistic Hartree–Fock X-ray and electron scattering factors / Acta. Cryst 24:390
M. Erdtmann / 2006 / The crystallographic properties of strained silicon measured by X-ray diffraction / J. Mater. Sci. Mater. Electron 17:137
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