Ferroelastic Domain Wall Motions in Lead Zirconate Titanate Under Compressive Stress Observed by Piezoresponse Force Microscopy

김관래

doi:https://doi.org/10.4313/JKEM.2017.30.9.546

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자료유형: 학술저널

저자정보: 김관래 (성균관대학교)

저널정보: 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제30권 제9호

발행연도: 2017.9

수록면: 546 - 550 (5page)

DOI: https://doi.org/10.4313/JKEM.2017.30.9.546

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Ferroelectric properties are governed by domain structures and domain wall motions, so it is of significanceto understand domain evolution processes under mechanical stress. In the present study, in situ piezoresponse forcemicroscopy (PFM) observation under compressive stress was carried out for a near-morphotropic PZT. Both 180° andnon-180° domain structures were observed from PFM images, and their habit planes were identified using electronbackscatter diffraction in conjunction with PFM data. By externally applied mechanical stress, needle-like non-180°domain patterns were broadened via domain wall motions. This was interpreted via phenomenological approach such thatthe total energy minimization can be achieved by domain wall motion rather than domain nucleation mainly due to thelocal gradient energy. Meanwhile, no motion was observed from curvy 180° domain walls under the mechanical stress,validating that 180° domain walls are not directly influenced by mechanical stress.

#Ferroelectric #Piezoresponse force microscopy #Domain structure #Compression

참고문헌 (18)

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Thanh D. Nguyen / 2012 / Piezoelectric nanoribbons for monitoring cellular deformations / Nature Nanotechnology 7(9):587~593

N. Izyumskaya / 2007 / Processing, Structure, Properties, and Applications of PZT Thin Films / Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences 32(3-4):111~202

Gene H. Haertling / 1999 / Ferroelectric Ceramics: History and Technology / Journal of the American Ceramic Society 82(4):797~818

C. Liu / 2006 / Foundations of MEMS / Pearson Education, Inc.

V. Nagarajan / 2003 / Dynamics of ferroelastic domains in ferroelectric thin films / Nature Materials 2(1):43~47

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