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저자정보
박재현 (한양대학교) 김병호 (한양대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2022년도 대한전자공학회 추계학술대회 논문집
발행연도
2022.11
수록면
94 - 97 (4page)

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Flash analog-to-digital converters (ADCs) suffer significantly from variations of the offset voltage in sub-micron process technology, resulting in degradation of the linearity. This paper proposes a method to reduce the process time to calibrate the nonlinearity caused by imperfect fabrication process and by the inherent configuration of fully differential flash ADC. The symmetricity of the resistor string can be efficiently used based on our previous work in order to the calibration process time. The behavioral simulation results using a 6-bit ADC showed the process time has been significantly reduced using the proposed method.

목차

Abstract
I. 서론
II. Analysis of the linearity error in resistor string
Ⅲ. Calibration process
Ⅳ. Simulation result
V. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌

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