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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- 한국전자파학회JEES Journal of Electromagnetic Engineering And Science Journal of Electromagnetic Engineering And Science Vol.22 No.6
- 발행연도
- 2022.11
- 수록면
- 656 - 664 (9page)
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The scattering parameters of a material under test (MUT) are prerequisites for characterizing the material parameters of the MUT. This paper describes a free-space two-tier one-port calibration method using a planar offset short as a free-space calculable reflect standard for measuring the scattering parameters of an MUT from the two successive one-port calibrations of a free-space material measurement system without a precise positioning system in free space. The two-tier one-port calibration method is validated by comparing the measurement results with those of the thru-reflect-line (TRL) calibration method for two reciprocal MUTs (glass plates of 2.780 mm and 4.775 mm thickness) in the W-band (75–110 GHz). Good agreement between the measurement results from the two calibration methods demonstrates that the free-space two-tier one-port calibration method using a planar offset short can be a feasible and effective alternative to the conventional free-space two-port calibration methods.
목차
Abstract
I. INTRODUCTION
II. FREE-SPACE CALCULABLE REFLECT STANDARD
III. FREE-SPACE TWO-TIER ONE-PORT CALIBRATION USING PLANAR OFFSET SHORT
IV. MEASUREMENT RESULTS
V. CONCLUSION
REFERENCES
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