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Min-Seok Park (Hanyang University) Jeahoon Cho (Hanyang University) Soonyong Lee (Samsung Electronics) Youngkun Kwon (Samsung Electronics) Kyung-Young Jung (Hanyang University)
저널정보
한국전자파학회JEES Journal of Electromagnetic Engineering And Science Journal of Electromagnetic Engineering And Science Vol.22 No.6
발행연도
2022.11
수록면
616 - 621 (6page)

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This research presents a novel methodology for measuring the complex permittivity of a material under test (MUT) in a millimeter-wave (mmWave) band by using two rectangular waveguide adapters. Contrary to the conventional Nicolson-Ross-Weir (NRW) method, the proposed complex permittivity measurement method does not require a material fabrication process for exact MUT insertion into a waveguide. In our complex permittivity measurement, simple commercial wave-guide adapters are employed instead of large flange structures. The proposed complex permittivity measurement of a non-destructive MUT is achieved by combining the NRW method, the Gaussian weighting moving average filtering technique, a full-wave electromagnetic analysis, and an optimization technique. Furthermore, the proposed methodology is validated by fabricating a Teflon-based MUT and by measuring the complex permittivity of the MUT in the Ka band (26.5-40 GHz). The results indicate that the proposed methodology exhibits good agreement with the data sheet.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. METHODOLOGY
III. MEASUREMENT RESULTS
IV. CONCLUSION
REFERENCES

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