A New Method for Measuring Refractive Index with a Laser Frequency-shifted Feedback Confocal Microscope

Borui Zhou; Zihan Wang; Xueju Shen

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자료유형: 학술저널

저자정보: Borui Zhou (Army Engineering University of PLA) Zihan Wang (Beijing Forestry University) Xueju Shen (Army Engineering University of PLA)

저널정보: 한국광학회 Current Optics and Photonics Current Optics and Photonics Vol.4 No.1

발행연도: 2020.2

수록면: 44 - 49 (6page)

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In this paper, a new method is presented to measure the refractive index of single plain glass or multilayered materials, based on a laser frequency-shifted confocal feedback microscope. Combining the laser frequency-shifted feedback technique and the confocal effect, the method can attain high axial-positioning accuracy, stability and sensitivity. Measurements of different samples are given, including N-BK7 glass, Silica plain glass, and a microfluidic chip with four layers. The results for N-BK7 glass and Silica plain glass show that the measurement uncertainty in the refractive index is better than 0.001. Meanwhile, the feasibility of this method for multilayered materials is tested. Compared to conventional methods, this system is more compact and has less difficulty in sample processing, and thus is promising for applications in the area of refractive-index measurement.

#Refractive index #Optical measurement #Laser frequency-shifted feedback #Confocal effect

참고문헌 (29)

참고문헌 신청

S. Singh / 2002 / Refractive index measurement and its applications / Phys. Scr 65:167~180

J. W. Ye / 2019 / An improved differential algorithm for the critical-angle refractometer / Optoelectron. Lett 15:108~112

V. G. Plotnichenko / 2018 / Influence of absorption on the refractive index determination accuracy by the minimum deviation method / Appl. Opt 57:639~647

G. H. Meeten / 1997 / Refractive index errors in the critical-angle and the Brewster-angle methods applied to absorbing and heterogeneous materials / Meas. Sci. Technol 8:728~733

C. M. Herzinger / 1998 / Ellipsometric determination of optical constants for silicon and thermally grown silicon dioxide via a multi-sample, multi-wavelength, multi-angle investigation / J. Appl. Phys 83:3323~3336

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Zihan Wang

소속기관 Beijing Forestry University

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