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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2022.10
- 수록면
- 1,559 - 1,562 (4page)
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As electronic devices technology scales down into the deep-submicron to achieve high-density, low power and high performance integrated circuits, multiple bit upsets by soft errors have become a major threat to on-chip memory systems. To address the soft error problem, single error correction, double error detection and double adjacent error correction (SEC–DED-DAEC) codes have been recently proposed. But these codes do not troubleshoot mis-correction problem. We propose the SEC-DED_DAEC code with without mis-correction. The decoder for proposed code is implemented as hardware and verified. The results show that there is no mis-correction in the proposed codes and the decoder can be employed on-chip memory system.
목차
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 생성행렬 생성 및 하드웨어 구현
Ⅳ. 실험 결과
Ⅴ. 결론
REFERENCES
참고문헌 (8)
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S. Vangal, S. Paul, S. Hsu, A. Agarwal, S. Kumar, R. Krishnamurthy, H. Krishnamurthy, J. Tschanz, V. De, and C. H. Kim, “Wide-Range Many-Core SoC Design in Scaled CMOS: Challenges and Opportunities,” IEEE Transaction on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, vol. 29, no. 5, pp. 843-856, May 2021.
A. Haran, N. M. Yitzhak, E. Mazal-Tov, E. Keren, D. David, N. Refaeli, E. Preziosi, R. Senesi, C. Cazzaniga, C. D. Frost, T. Hadas, U. Zangi, and C. Andreani, "Ultralow Power System-on-Chip SRAM Characterization by Alpha and Neutron Irradiation," IEEE Transaction on Nuclear Science, vol. 68, no. 11, pp. 2598-2608, Nov. 2021.
H. Li, L. Xiao, C. Qi, and J. Li, "Design of High-Reliability Memory Cell to Mitigate Single Event Multiple Node Upsets," IEEE Transaction on Circuits and Systems-I, vol. 68, no. 10, pp. 4170-4180, Oct. 2021.
V. Bandeira, I. Oliveira, F. Rosa, R. Reis, and L. Ost, "An Extensive Soft Error Reliability Analysis of a Real Autonomous Vehicle Software Stack," IEEE Transaction on Circuits and Systems-II, vol. 68, no. 1, pp. 446-450, Jan. 2021.
S. Lin and D. Costello, Error Control Coding, 2nd ed. Pearson, 2004.
A. Haran, N. M. Yitzhak, E. Mazal-Tov, E. Keren, D. David, N. Refaeli, E. Preziosi, R. Senesi, C. Cazzaniga, C. D. Frost, T. Hadas, U. Zangi, and C. Andreani, "Ultralow Power System-on-Chip SRAM Characterization by Alpha and Neutron Irradiation," IEEE Transaction on Nuclear Science, vol. 68, no. 11, pp. 2598-2608, Nov. 2021.
H. Li, L. Xiao, C. Qi, and J. Li, "Design of High-Reliability Memory Cell to Mitigate Single Event Multiple Node Upsets," IEEE Transaction on Circuits and Systems-I, vol. 68, no. 10, pp. 4170-4180, Oct. 2021.
V. Bandeira, I. Oliveira, F. Rosa, R. Reis, and L. Ost, "An Extensive Soft Error Reliability Analysis of a Real Autonomous Vehicle Software Stack," IEEE Transaction on Circuits and Systems-II, vol. 68, no. 1, pp. 446-450, Jan. 2021.
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