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저자정보
Seongje Chae (Kookmin University) Young-Deuk Joh (Gyeongin National University) Won-Kwang Park (Kookmin University)
저널정보
한국정보통신학회 INTERNATIONAL CONFERENCE ON FUTURE INFORMATION & COMMUNICATION ENGINEERING 2022 INTERNATIONAL CONFERENCE ON FUTURE INFORMATION & COMMUNICATION ENGINEERING Vo.13 No.1
발행연도
2022.1
수록면
97 - 100 (4page)

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In this study, we consider the orthogonality sampling method (OSM) in order to quickly identify a small anomaly in microwave imaging from the measured scattering parameter data. In contrast to the traditional researches, if the location of the transmitter and receiver is the same, the measurement of scattering parameter data cannot be possible. Hence, we set the unknown measurement data as a constant and introduce a new indicator function of the OSM. Throughout the simulation results with various constants, we confirmed that the best results can be obtained when the value of an applied constant is zero.
#Microwave imaging #Orthogonality sampling method #Scattering parameter #Simulation results

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. INDICATOR FUNCTION OF THE OSM
III. SIMULATION RESULTS AND DISCUSSION
IV. CONCLUSION
REFERENCES

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