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학술저널
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대한금속·재료학회 Electronic Materials Letters Electronic Materials Letters Vol.11 No.1
발행연도
2015.1
수록면
113 - 117 (5page)

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The growth behavior and consequent surface morphologyevolution of zinc phthalocyanine (ZnPc) thin films deposited ona CuI interlayer were studied using atomic force microscopyand height difference correlation function (HDCF) analysis. The planar phthalocyanine thin films grown on non-interactingsubstrates have previously been reported to show anomalousscaling behavior such as large growth exponents, β, sometimeslarger than 0.5, and small anomaly values, ρ, typically smallerthan 0.6. In contrast, ZnPc thin films on a CuI interlayer (CuI/ZnPc) in this work showed conventional scaling behavior with aβ value of 0.26 ± 0.05 and a ρ value of 0.91. The HDCFanalyses and x-ray diffraction results indicate that the expectedinterdigitated electron donor-acceptor interface was hardlyformed for the CuI/ZnPc thin film system due to the lack ofsurface-parallel crystallites with high step edge barriers.

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