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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Byeong‑Cheol Kang (Kwangwoon University) Tae‑Jun Ha (Kwangwoon University)
저널정보
대한금속·재료학회 Electronic Materials Letters Electronic Materials Letters Vol.15 No.4
발행연도
2019.1
수록면
391 - 395 (5page)

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We demonstrate a simple and reproducible method of solution-processed fluorocarbon encapsulation which significantlyimproves the device performance of molybdenum disulphide (MoS2) thin-film transistors (TFTs) operating at low voltages. Using such encapsulation, the key factors of the device, such as field-effect mobility, sub-threshold swing and deviceto-device uniformity were improved. This achievement is presumed to stem from the screening effect of fluorocarbon,poly(vinylidene fluoride-co-trifluoroethylene) (PVDF-TrFE) which possesses a chemical structure with polarizable interactionsof carbon–fluorine (C–F) bonds in the end groups, on the scattering of charge impurities in MoS2TFTs. We alsoinvestigate the Raman spectra to verify the effects of solution-processed fluorocarbon encapsulation on the structure of MoS2thin films where the decreases in the intensity levels of E2gand A1gwere observed without a shift in the peak. We believethat such a screening method can be a promising approach to recover the intrinsic electrical characteristics of MoS2TFTsfor nano-electronics with low power consumption.

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