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저자정보
Sung Hyuk Lim (Department of Neurology Institute of Neuroscience Center Samsung Medical Center Seoul Korea) Kap Kyu Kim (Department of Rehabilitation Medicine The Catholic University of Korea Seoul St. Mary’s Hospital Se) Min Hwan Jang (Department of Neurology Institute of Neuroscience Center Samsung Medical Center Seoul Korea) Ki Eob Kim (Department of Neurology Korea University Anam Hospital Seoul Korea) Sang-Ku Park (Department of Neurosurgery Konkuk University Medical Center Seoul Korea)
저널정보
대한임상검사과학회 대한임상검사과학회지 대한임상검사과학회지 제53권 제1호
발행연도
2021.1
수록면
122 - 130 (9page)

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수술중신경계감시에서 혼입되는 artifact의 종류는 매우 다양하고 검사에 방해 되는 artifact의 제거 또한 필수적이다. 그리고 artifact를 제거해서 검사의 질을 향상시키는 것이 검사자의 역량이며 환자의 안전을 위한 최선의 방법이다. 하지만 경험이 부족해서 수술실의 장비나 마취에 관한 사항들에 대한 숙지가 미흡한 경우 상황에 맞는 적절한 방법으로 artifact를 제거할수 없다. 만약 artifact가 구별 및 제거되지 않고 진행된 검사의판독은 수술 진행에 혼선을 초래하며 이는 신속하고 정교함이요구되는 신경외과 수술에 치명적인 문제가 될 수 있다. 본 논문에서는 수술 중에 발생하는 artifact의 원인을 전기적요인과 비전기적인 요인 그리고 기타 요인들로 분류하였고 상황에 맞게artifact를 제거하는 방법과 검사법에 대해 언급하였다. 수술실의 환경이 동시에 여러가지 상황을 고려해야 하는 매우 민감한조건이지만, 다양한 artifact의 형태와 원인을 숙지하여 안정적이고 원활한 수술중신경계감시가 되길 바란다.

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