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논문 기본 정보

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저자정보
심진용 (한양대학교) 이진현 (한양대학교) 유봉영 (한양대학교)
저널정보
한국표면공학회 한국표면공학회 학술발표회 초록집 2021년도 한국표면공학회 춘계학술대회
발행연도
2021.6
수록면
148 - 148 (1page)

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The most important thing in the semiconductor industry today is the size of the semiconductor. The goal is to get more functionality into smaller semiconductors. As a result, as feature size decreases, the density of integrated circuits (ICs) has doubled and will continue to increase in the future. However, the problem is that the density improvement of packaging technology is much slower than the increasing IC trend. To address this growing I/O interconnection gap, semiconductor packaging technology has been studied by many researchers, universities and companies every year, and is currently focused on Fan Out Wafer Level Package (FOWLP) technology that maintains high performance while reducing packaging costs. In the FOWLP process, the redistribution layer (RDL) rearranges I/O connections by Cu electrodeposition. During the Cu electrodeposition process, an overburden is formed on the patterned sub-micrometer trench. In order to eliminate overburden, CMP (Chemical Mechanical Polishing) is being used in the semiconductor industry, but the CMP process is very expensive. Micro contact printing (μCP) process that delivers self-assembled monolayers (SAM) to the top surface of the trench for cost savings and additives that helps planarization ... 전체 초록 보기

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