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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2021.6
- 수록면
- 315 - 321 (7page)
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본 논문에서는 초소형 반도체 부품 IC 소켓 검사에 필요한 다중 채널 시험장치를 개발한다. 이 시험장치는 저 저항(수 mΩ급)으로 저전류(수 uA급)～5A 범위의 미세전류상태에서 생산 시스템 요구 규격에 맞는 IC를 다양한 형태로 시험분석을 실행한다. 0.25 ㎜이하의 리드피치(Lead Pitch)를 가진 IC 소켓 채널수의 증가로 다양한 시험을 동시에 실행해야하는 시험장비는 회로의 고집적화를 위하여 여러 개의 SMU(Source Measure Unit) 보드를 동시에 탑재하도록 구성된다. Daisy chain test method를 통하여 채널지점(Channel Point)당 약 2분 소요되는 시험시간(Test Time)을 40 초(sec) 이내로 단축이 가능하고, 그래픽 기반 인터페이스, 분석 도구(I-V Curve Mode 등) 및 데이터 로깅(Data Logging)을 통한 테스트 플로우 분석을 구현함으로써 시험시간과 소요비용을 절감한다.
목차
Abstract
요약
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 다채널 로소켓 시험장비 구현
Ⅲ. 실험결과
Ⅳ. 결론
References
참고문헌 (17)
참고문헌 신청
Seeit Test & Burn-in Socket, 18/28 Pin DIP to 18/28Pin SOIC
2006 / Semiconductor measurement/inspection equipment technology trends / ITFIND
Park Jong-Dae / 1992 / Design of Multichannel Telemetering IC for Physiological Signals / Journal of the Korean Sensors Society 1(2):147~154
Jaeng mantae / 2020 / Recent trends and implications of the global semiconductor equipment industry / ITFIND
Analog Devices Inc / solated Energy Measurement Chipset for Polyphase Shunt Meter
2006 / Semiconductor measurement/inspection equipment technology trends / ITFIND
Park Jong-Dae / 1992 / Design of Multichannel Telemetering IC for Physiological Signals / Journal of the Korean Sensors Society 1(2):147~154
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