외상성 뇌손상 후 전기자극을 활용한 치유 과정 촉진

박은영; Johnathan G. Lyon; Melissa Alvarado-Velez; Martha I. Betancur; Nassir Mokarram; Ravi V. Bellamkonda; 신현정

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: 박은영 (KAIST) Johnathan G. Lyon (Duke University) Melissa Alvarado-Velez (Duke University) Martha I. Betancur (Duke University) Nassir Mokarram (Duke University) Ravi V. Bellamkonda (Duke University) 신현정 (KAIST)

저널정보: Korean Society for Precision Engineering 한국정밀공학회 학술발표대회 논문집 한국정밀공학회 2021년도 춘계학술대회 논문집

발행연도: 2021.5

수록면: 113 - 113 (1page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2021

외상성 뇌손상 후 전기자극을 활용한 치유 과정 촉진

박은영 , Johnathan G. Lyon , Melissa Alva 외 8명 한국정밀공학회 학술발표대회 논문집 2021.05 학술대회자료

2020

외상성 뇌 손상 후 전기자극을 활용한 치유 과정 촉진

박은영 , Johnathan G. Lyon , Melissa Alva 외 9명 대한기계학회 춘추학술대회 2020.08 학술대회자료

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외상성 뇌손상(Traumatic Brain Injury, TBI)은 외부로부터 두부에 가해지는 물리적 힘에 의해 뇌의 기능과 인지능력 및 행동이 일시적 또는 영구적으로 손상되는 질환이다. TBI는 세포 수준에서 다양한 병리생리학적 변화를 수반하는데, 그중 신경에의 염증반응은 초기 수 분 이내에 시작되어 수 개월 동안 진행되며 질병 치유 과정 및 결과에 결정적인 역할을 한다. 그러나, TBI 급성기에 나타나는 과도한 염증 및 부족한 자가 치유 능력은 뇌손상을 악화시킨다. 따라서, TBI 초기 단계에서 세포의 표현형 및 주변 환경을 제어함으로써 신경 회복을 도모하는 것이 중요하다. 본 연구에서는 수컷 ^_@span style=color:#999999 ^_# ... ^_@/span^_#^_@a href=javascript:; onclick=onClickReadNode('NODE10581689');fn_statistics('Z354','null','null'); style='color:#999999;font-size:14px;text-decoration:underline;' ^_#전체 초록 보기^_@/a^_#

#Electrical stimulation #Traumatic brain injury #Microglia #Neural stem cells #Astrocytes

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이 논문의 저자 정보

Eunyoung Park

소속기관 한국과학기술원

주요연구분야 공학 > 기계공학 > 기계공학 일반 TOP 10% 공학 > 전기전자공학 > 정보통신공학

논문수 39 이용수 3,400

J. G. Lyon

소속기관 Duke University