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저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2020년도 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집
발행연도
2020.8
수록면
1,059 - 1,064 (6page)

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In this paper, an automatic optical inspection of a display based on row line reference is proposed. Divide the line containing each display pixel by row line. An open defect was assigned by calculating a distance between display pixels included in one line. After considering the location of open defects, defects of short, bright, and dark points were assigned, and then adjacent defects were clustered. Through the proposed method, the OLED panel with 5 defects was inspected 100 times to confirm its accuracy.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험 및 결과
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌

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