Burn-in Socket와 Board의 불량 검출을 위한 S/Z 파라미터 분석

유동희; 김문정

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: 유동희 (공주대학교) 김문정 (공주대학교)

저널정보: 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2020년도 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집

발행연도: 2020.8

수록면: 576 - 576 (1page)

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	저자 메타	소속기관, 소속부서, 직급, 연구분야, 연구키워드, 이용수, 피인용수, 저자 논문활용도

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