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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
정지영 (한양대학교 전기공학부) 문준 (한양대학교 전기공학부) 이충우 (한양대학교 전자통신컴퓨터공학과) 정정주 (한양대학교 전기제어생체공학부) 김영식 (LG 전자기술원 소자재료연구소 MS 그룹)
저널정보
정보저장시스템학회 정보저장시스템학회논문집 정보저장시스템학회논문집 제3권 제2호
발행연도
2007.1
수록면
59 - 65 (7page)

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Scanning Prove Microscope (SPM) - based Data Storage (SDS)는 Atomic Force Microscope (AFM)을 이용하여 Cantilever Tip 이 저장 장치 미디어에 나노미터 단위로 비트를 읽고, 쓰고 지우는 저장 장치로써, x, y 두 축을 이용한다. 따라서 축간 coupling 의 영향이 크게 발생한다. 따라서 축간 coupling 의 영향을 고려하여 제어기를 설계하여야 한다. 본 논문은 coupling 요소를 제거하기 위하여 Feedforward Decoupler 를 설계하여 Stage 의 입력 앞 단에 추가하는 방법을 제안하였다. Feedforward Decoupler 를 추가함으로써 coupling 요소가 줄어드는 것을 모의 실험을 통해 확인한다. 이를 통해 나노급으로 보다 정밀한 제어가 가능함을 확인하였다.

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