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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2010.1
- 수록면
- 158 - 161 (4page)
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We measured the critical current of a Cooper pair transistor consisting of two Josephson junctions and a gate electrode. The Cooper pair transistors were fabricated by using electron-beam lithography and double-angle evaporation technique. The Gate voltage dependence of critical current was measured by observing voltage jumps at various gate voltages while sweeping bias current. The observed oscillation was 2e-periodic, which shows the Cooper pair transistor had low level of quasiparticle poisoning.
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