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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
조성동 (조선대학교 화학과)
저널정보
조선대학교 기초과학연구원 조선자연과학논문집 조선자연과학논문집 제3권 제3호
발행연도
2010.1
수록면
138 - 142 (5page)

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Polystyrene thin films containing Bragg structures have been successfully obtained by the removal of DBR porous silicon films from the DBR structured porous silicon/polystyrene composite film in HF/$H_2O$ mixture solution and by replicating the nano-structures of porous silicon containing Bragg structure. Polystyrene thin films containing Bragg structures displayed unique optical reflection resonances in optical reflection spectrum. This optical reflection band was resulted from the interference of reflection wavelength at Bragg structure of polystyrene thin films. The wavelength of reflection resonances could be modified by the change of Bragg structure of the master. Polystyrene thin films containing Bragg structures were flexible and maintained their optical characteristics upon bending. The Polystyrene thin films replicate the photonic features and the nanostructure of the master.

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