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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
김광표 (명지대학교 공과대학 전자공학과) 최정은 (명지대학교 공과대학 전자공학과) 홍상진 (명지대학교 공과대학 전자공학과)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체디스플레이기술학회지 반도체디스플레이기술학회지 제18권 제2호
발행연도
2019.1
수록면
44 - 47 (4page)

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Amorphous carbon layer (ACL) is actively used as an etch mask. Recent advances in patterning ACL requires the next level of durability of hard mask in high aspect ratio etch in near future semiconductor manufacturing, and it is worthwhile to know the surface property of ACL thin film to enhance the property of etch hard mask. In this research, ACL are deposited by 6 inch plasma enhanced chemical vapor deposition system with $C_3H_6$ and $N_2$ gas mixture. Surface properties of deposited ACL are investigated depending on gas flow, pressure, RF power. Fourier transform infrared is used for the analysis of surface chemistry, and X-ray photoemission spectra is used for the structural analysis with the consideration of the contents of $sp^2$ and $sp^3$ through fitting of C1s. Also mechanical properties of deposited ACL are measured in order to evaluate hardness.

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