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김우재 (광운대학교 전자바이오물리학과) 이환희 (광운대학교 전자바이오물리학과) 권희태 (광운대학교 전자바이오물리학과) 신기원 (광운대학교 전자바이오물리학과) 양창실 (와이아이테크[주]) 권기청 (광운대학교 전자바이오물리학과)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체디스플레이기술학회지 반도체디스플레이기술학회지 제16권 제4호
발행연도
2017.1
수록면
20 - 24 (5page)

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Currently, techniques mainly used in semiconductor impurity diffusion processes include furnace thermal diffusion, ion implantation, and vacuum plasma doping. However, there is a disadvantage that the process equipment and the unit cost are expensive. In this study, boron diffusion process using relatively inexpensive atmospheric plasma was conducted to solve this problem. With controlling parameters of Boron diffusion process, the doping characteristics were analyzed by using secondary ion mass spectrometry. As a result, the influence of each variable in the doping process was analyzed and the feasibility of atmospheric plasma doping was confirmed.

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