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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이기연 (순천향대학교 공과대학 기계공학과) 전상범 (순천향대학교 공과대학 기계공학과) 김국원 (순천향대학교 공과대학 기계공학과)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체디스플레이기술학회지 반도체디스플레이기술학회지 제10권 제4호
발행연도
2011.1
수록면
89 - 94 (6page)

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In recent years there have been considerable attentions on nanoimprint lithography (NIL) by the display device and semiconductor industry due to its potential abilities that enable cost-effective and high-throughput nanofabrication. A major disadvantage of thermal NIL is the thermal cycle, that is, heating over glass transition temperature and then cooling below it, which requires a significant amount of processing time and limits the throughput. One of the methods to overcome this disadvantage is to improve the cooling performance in NIL process. In this paper, a numerical analysis model of cooling system in thermal NIL was development by CAD/CAE program and the performance of the cooling system was analyzed by the model. The calculated temperatures of nanoimprint device were verified by the measurements. By using the analysis model, the case that the cooling material is replaced by liquid nitrogen is investigated.

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