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Kim, Mu-Gyeom (Samsung Advanced Institute of Technology) Kim, Sang-Yeol (Samsung Advanced Institute of Technology) Lee, Sung-Hun (Samsung Advanced Institute of Technology) Song, Jung-Bae (Samsung Advanced Institute of Technology) Park, Sang-Hun (Samsung Advanced Institute of Technology) Son, Jhun-Mo (Samsung Advanced Institute of Technology) Kang, Sung-Kee (Samsung Advanced Institute of Technology) Tamura, Shinichiro (Samsung Advanced Institute of Technology)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권2호
발행연도
2007.1
수록면
1,112 - 1,115 (4page)

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Optical thickness method using double interferometer showed dynamic variations of both mechanical and optical thicknesses. Packing density measured a thickness ratio of before and after pressed single film. Lower swelled thickness of emitting layer in a device and densely packed film had shown better lifetime.

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