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Kim, Min-Kyu (Display Laboratory, Corporate R&D Center, Samsung SDI) Park, Jin-Seong (Display Laboratory, Corporate R&D Center, Samsung SDI) Jeong, Jae-Kyeong (Display Laboratory, Corporate R&D Center, Samsung SDI) Jeong, Jong-Han (Display Laboratory, Corporate R&D Center, Samsung SDI) Ahn, Tae-Kyung (Display Laboratory, Corporate R&D Center, Samsung SDI) Yang, Hui-Won (Display Laboratory, Corporate R&D Center, Samsung SDI) Lee, Hun-Jung (Display Laboratory, Corporate R&D Center, Samsung SDI) Chung, Hyun-Joong (Display Laboratory, Corporate R&D Center, Samsung SDI) Mo, Yeon-Gon (Display Laboratory, Corporate R&D Center, Samsung SDI) Kim, Hye-Dong (Display Laboratory, Corporate R&D Center, Samsung SDI)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권1호
발행연도
2007.1
수록면
640 - 643 (4page)

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The effect of plasma damage was investigated on amorphous gallium-indium-zinc oxide (a-GIZO) films and transistors. Ion-bombardment by plasma process affects to turn semiconductor to conductor materials and plasma radiation may degrade to transistor electrical properties. All damages are easily recovered with a $350^{\circ}C$ thermal annealing.

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