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저자정보
Hsieh, Ming-Ta (Department of Electrophysics, National Chiao Tung University) Chang, Chan-Ching (AUO Technology Center, AU Optronics Corporation) Chen, Jenn-Fang (Department of Electrophysics, National Chiao Tung University) Zan, Hsiao-Wen (Department of Photonics & Display Institute, National Chiao Tung University) Yen, Kuo-Hsi (Department of Photonics & Display Institute, National Chiao Tung University) Shih, Ching-Chieh (AUO Technology Center, AU Optronics Corporation) Chen, Chih-Hsien (AUO Technology Center, AU Optronics Corporation) Lee, Yeong-Shyang (AUO Technology Center, AU Optronics Corporation) Chiu, Hsin-Chih (AUO Technology Center, AU Optronics Corporation)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권1호
발행연도
2007.1
수록면
904 - 907 (4page)

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We reported a simplified circuit model to investigate the interface states and the quality of a-Si film based on a MIS structure using admittance spectroscopy. The model can be employed easily to monitor the fabrication process of thin-film transistor and to obtain the important parameters.

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