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학술대회자료
저자정보
Chung, Kyo-Young (YieldBoost Tech, Inc.)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.I
발행연도
2005.1
수록면
594 - 597 (4page)

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This paper shows that the defect detection in TFTarray panel can be improved by using newly developed software solution without adding additional hardware instruments. Some issues are reviewed in current TFT array test and new algorithm is explained for detecting more real defects without paying the penalty of reporting more false defects in TFT array test.

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