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Jang, Yong-Ho (LG.Philips LCD R&D Center) Yoon, Soo-Young (LG.Philips LCD R&D Center) Kim, Binn (LG.Philips LCD R&D Center) Chun, Min-Doo (LG.Philips LCD R&D Center) Cho, Hyung-Nyuck (LG.Philips LCD R&D Center) Cho, Nam-Wook (LG.Philips LCD R&D Center) Sohn, Choong-Yong (LG.Philips LCD R&D Center) Jo, Sung-Hak (LG.Philips LCD R&D Center) Choi, Seung-Chan (LG.Philips LCD R&D Center) Kim, Chang-Dong (LG.Philips LCD R&D Center) Chung, In-Jae (LG.Philips LCD R&D Center)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.II
발행연도
2005.1
수록면
944 - 947 (4page)

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Highly stable gate driver circuit using a-Si TFT has been developed. The circuit has dual-pull down structure, in which bias stress to the TFTs is relieved by alternating applied voltage. The circuit has been successfully integrated in 4-in. QVGA and 14-in. XGA TFT-LCD with a normal a-Si process, which are stable for over 2,000 hours at $60^{\circ}C$. The enhancement of stability of the circuit is attributed to retarded degradation of pull-down TFTs by AC driving.

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