Investigation of $I_c$ Degradation Behavior in Bent Bi-2223 Tapes under Pressurized Liquid Nitrogen using a $rho-shaped$ Sample Holder

Shin, Hyung-Seop; Dizon, John Ryan C.; Choi, Ho-Yeon; Ha, Dong-Woo; Oh, Sang-Soo

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저자정보: Shin, Hyung-Seop (Andong National University) Dizon, John Ryan C. (Andong National University) Choi, Ho-Yeon (Andong National University) Ha, Dong-Woo (Korea Electrotechnology Research Institute) Oh, Sang-Soo (Korea Electrotechnology Research Institute)

저널정보: 한국초전도저온학회 한국초전도·저온공학회논문지 한국초전도·저온공학회논문지 제7권 제4호

발행연도: 2005.1

수록면: 4 - 9 (6page)

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The degradation behavior of the critical current $(I_c)$ of Bi-2223 superconducting tapes under pressurized liquid nitrogen were investigated using a newly developed p-shaped sample holder which gives a series of bending strains to a sample. Three kinds of commercially available multi-filamentary Bi-2223 superconducting tapes were used. At atmospheric pressure, the Ie degradation behavior depended on the manufacturing process undergone by each tape. The tapes externally reinforced or densified by over pressure showed better bending strain tolerance than the Ag alloy-sheathed Bi-2223 tape. But these tapes showed a significant $I_c$ degradation when pressurized to 1 MPa in liquid nitrogen. For all samples, after depressurization to atmospheric pressure from 1 MPa, the Ie was completely recovered to its initial values at atmospheric pressure. When the samples were subjected to a thermal cycle wherein the tape was warmed up to room temperature after being depressurized from 1 MPa, it was found that the larger degradation of $I_c$ occurred at the regions where significant ballooning occurred, such as $0\%\;and\;0.2\%$. However, an improved ballooning damage tolerance was observed in the highly-densified tape.

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Shin, Hyung-Seop

소속기관 Department of Mechanical Design Engineering, Andong National University

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

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Dizon, John Ryan C.

소속기관 Department of Mechanical Design Engineering, Andong National University

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Choi, Ho-Yeon

소속기관 Andong National University

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