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저자정보
신형섭 (안동대학교) 김병수 (안동대학교 대학원) 오상수 (한국전기연구원 초전도응용연구팀) 하동우 (한국전기연구원 초전도응용연구팀) 하홍수 (한국전기연구원 초전도응용연구팀)
저널정보
한국초전도저온학회 한국초전도저온공학회 학술대회 한국초전도저온공학회 2003년도 학술대회 논문집
발행연도
2003.1
수록면
101 - 104 (4page)

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Influences of transverse compressive stress on the critical current ( $I_{c}$) in AgMg and AgMn alloy sheathed Bi-2223 tapes were investigated at 77 K and 0 T. The $I_{c}$ degradation behavior depending on sample specifications was discussed in viewpoints of n-value and damage morphology. As a result, Bi-2223 tapes showed a significant drop in $I_{c}$ for stresses greater than 50MPa. The AgMg sheathed Bi-2223 tapes representing higher $I_{c}$ showed a lower $\sigma$$_{irr}$ and a significant $I_{c}$ degradation with increase in compressive stress. There existed a voltage tap separation dependency of the $I_{c}$ degradation behavior caused by the transverse compressive stress.sive stress.s.

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