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최병선 (한국기술교육대학교 전기전자공학과) 김준성 ([주]EXICON) 김종원 ([주]EXICON) 장영조 ([주]EXICON)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체및디스플레이장비학회지 반도체및디스플레이장비학회지 제5권 제1호
발행연도
2006.1
수록면
33 - 38 (6page)

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The ATE driver to test a high speed semiconductor chip is designed by using general logic drivers instead of dedicated pin drivers. We have proposed a structure of general logic drivers using FPCA and assured its correct operation by EDA tool simulation. PCB circuit was implemented and Altera FPGA chip was programmed using DDR I/O library. On the PCB, it is necessary to place two resistors connected output drivers near to the output pin to adjust an impedance matching. We confirmed that the measured results agree with the simulated values within 5% errors at room temperature for the input signals with 800Mbps data transfer rate and 1.8V operating voltage.

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