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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 저널정보
- 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display
- 발행연도
- 2009.1
- 수록면
- 1,061 - 1,064 (4page)
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Through dark injection space-charge-limited current (DI-SCLC) and trap-free SCLC measurements, it has been demonstrated that an indium tin oxide (ITO)/buckminsterfullerene ($C_{60}$) electrode can form a quasi-Ohmic contact with N, N'-bis (naphthalen-1-yl)-N, N'-bis(phenyl) benzidine (NPB). The DI-SCLC results show a clear peak current along with a shift of the peak position as the field intensity varies, implying an Ohmic (or quasi-Ohmic) contact. A theoretical simulation of the SCLC also shows that ITO/$C_{60}$ forms an Ohmic contact with NPB. The Ohmic contact makes it possible to estimate the NPB hole mobility through the use of both DI-SCLC and trap-free SCLC analysis. This also contributes to a reduction in power consumption.
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