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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
권규환 (LG CNS Company)
저널정보
한국IT서비스학회 한국IT서비스학회 학술대회 한국IT서비스학회 2009년도 추계학술대회
발행연도
2009.1
수록면
505 - 510 (6page)

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전자, 자동차 등 엔지니어링 컨버전스 산업이 발전함에 따라 임베디드 S/W 테스트의 중요성이 증가하고 있다. 그러나, 일반적인 S/W 테스트 방법을 그대로 이용할 경우 임베디드 디바이스의 특성으로 인해 일반적인 품질 수준의 테스트 결과를 얻기 위해 상대적으로 더 많은 비용과 시간을 필요로 하게 된다. 따라서, 다양한 임베디드 시스템의 환경에 적용하기 쉽고, 임베디드 디바이스의 특성에 잘 대응하는 테스트 방법이 요구되는 실정이다. 본 논문에서는 Data-Driven 기법을 이용한 효과적인 임베디드 테스트 자동화 기법을 제안한다.

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