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저자정보
Yang, Yong-Suk (Electronics and Telecommunications Research Institute) Chu, Hye-Yong (Electronics and Telecommunications Research Institute) Oh, Ji-Young (Electronics and Telecommunications Research Institute) Lee, Jeong-Ik (Electronics and Telecommunications Research Institute) Kim, Gi-Heon (Electronics and Telecommunications Research Institute) KoPark, Sang-He (Electronics and Telecommunications Research Institute) Hwang, Chi-Sun (Electronics and Telecommunications Research Institute) Kim, Mi-Kyung (Electronics and Telecommunications Research Institute) Do, Lee-Mi (Electronics and Telecommunications Research Institute) Chung, Sung-Mook (Electronics and Telecommunications Research Institute) Ko, Young-Wook (Electronics and Telecommunications Research Institute)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2004년도 Asia Display / IMID 04
발행연도
2004.1
수록면
623 - 624 (2page)

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The coating and estimation of gas and moisture barriers on polymer and glass substrates are receiving very much attention in passivation of organic light emitting devices (OLEDs). In this study, the encapsulation and lifetime measurement techniques of OLEDs were presented. The degradation mechanisms of bare and encapsulated OLEDs were investigated by the visual lifetime measurement (VLM) system with the parameters such as a pixel luminance(L), a luminance rms roughness(dL), a brightness area ratio(R), an edge degradation depth(D), etc.

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